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LABOR FÜR IR / ATIR / IR-MIKROSKOPIE (Infrarotspektroskopie und -mikroskopie) Die Infrarotspektroskopie, kurz IR-Spektroskopie, ist ein physikalische...
Die Rasterkraftmikroskopie (AFM = Atomic Force Microscopy) ist ein im Jahre 1985 entwickeltes Rastersondenmikroskopieverfahren. Die Rasterkraftmikros...
LABOR FÜR REM/EDX / ESMA - ANALYSEN (Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikrobereichsanalytik) Die Röntgenmikrobereichsanalyse (EDX) erlaubt in...
LABOR FÜR PROFILOMETRIE und Rauheitsmessungen Mittels optischer Profilometrie kann die Topographie einer Oberfläche berührungslos mit einer vertikal...
Die Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS) ermöglichst die Messung der atomaren und molekulare Zusammensetzung der obersten 1-3 Monolagen einer P...
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Die Aufklärung des Aufbaus und der Zusammensetzung von Schichtstrukturen vom Mikrometer bis in den Nanometerbereich gehört zu unserem Dienstleistungsa...
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Die Oberflächenanalytik beschäftigt sich mit der Untersuchung der Oberfläche einer Probe. Dabei kann es sich sowohl um eine strukturelle als auch eine...
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LABOR FÜR XPS ANALYSEN (ESCA/PHOTOELEKTRONENSPEKTROSKOPIE) ELEMENTE, OXIDATIONSZUSTÄNDE - QUANTITATIV UND OBERFLÄCHENEMPFINDLICH Die XPS Analyse (Ph...
Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist eine Technik zur hochauflösenden Abbildung von unterschiedlichsten Proben. Die enorme Auflösung und Tiefens...
Morphologie und Topographie beschreiben eine Oberfläche qualitativ bzw. quantitativ (z.B. durch Rauheitsparameter nach ISO 4288 oder ISO 25178). Die...