Das JEOL Neoscope - Benchtop-Rasterelektronenmikroskop wurde entwickelt, um ein sehr einfach zu bedienendes REM mit intuitiver Navigation und Echtzeit-Elementeanalyse anzubieten.
Schnellere Messergebnisse mit dem AFM der Tosca-Serie
Die Tosca-Serie kombiniert hochwertige Technologie auf einzigartige Weise mit Effizienz und ist...
Schnellere Messergebnisse mit dem AFM der Tosca-Serie
Die Tosca-Serie kombiniert hochwertige Technologie auf einzigartige Weise mit Effizienz und ist...
ZeGage ist das ideale berührungslose optische Profilometer für quantitative 3D-Messungen von Form und Rauheit feinst bearbeiteter Oberflächen. Der k...
External view of the SU9000 in-lens cold-field emission XHR SEM. To allow practical usage of the electron optical power, the optics system has been en...
Verbessern Sie Ihre Inspektionsleistung mit der überragenden Klarheit der 4K-Bildauflösung, die für eine Vielzahl komplexer und kontrastreicher Anwend...
Schnelle und genaue Spektralmessungen
UV/VIS-Excellence-Spektralphotometer vereinen die herausragende optische Leistung der FastTrack™ Technologie mi...
Schnelle und genaue Spektralmessungen
UV/VIS-Excellence-Spektrometer vereinen die herausragende optische Leistung der FastTrack™ Technologie mit der ...
Schnelle und genaue Spektralmessungen
UV/VIS-Excellence-Spektralphotometer vereinen die herausragende optische Leistung der FastTrack™ Technologie mi...
Exzellente Bildqualität dank CeB6 Filament mit hoher Brillanz bei geringer Beschleunigungsspannung
Desktop-REM für große Proben bis 100 mm x 100mm, 6...
Kompaktes klinisch-chemisches Analysesystem, das auf Effizienz, Verlässlichkeit und vor allem einfache Bedienbarkeit als Primär-, Notfall- oder Backup...
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Schnelle und genaue Spektralmessungen
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