Rasterelektronenmikroskope Darmstadt

...Das PlasmaPower Conditoner Tool dient als Plasma-Zündquelle für Rasterelektronenmikroskope. Es generiert die Zündspannung für ein FIB-Modul (Focused Ion Beam), z. B. zur Vorbehandlung der Probenoberfläche mit Plasma. Technische Spezifikationen: Eingang: 115 oder 230 V AC +/- 15 % wählbar mit Spannungsumschalter Ausgang: 500 V AC, 20 W, 40 mA LED-Zustandsanzeige Erhältliche Produkte: PlasmaPower Conditioner Tool im Tischgehäuse, Maße: 250 x 174 x 100 mm PlasmaPower Conditioner Tool als Einbausatz für 19“ Rackgehäuse Anschlusskabel Gewicht: 3,3kg...

...Technische Ausstattung: - ZEISS EVO MA 15 – Rasterelektronenmikroskop für Hochvakuum und variablen Druckbereich. - Computergesteuerter REM mit Wolfram-Kathode - Dreilinsige Elektronenoptik Optibeam-Strahlkontrolle - Variabler Druckbereich zwischen 10Pa – 400Pa - EasyVP Druckeinstellung von HV zu VP ohne Wechsel der Druckreduzierblenden - Gaseinlass: Luft Spezifizierte Ortsauflösung...

...Tisch-Feldemissionskanonen-Rasterelektronenmikroskop für hochwertige Bildgebung in allen Disziplinen. 2’000,000 x, 2nm Auflösung, EDX Elementanalyse und SED als Optionen + FELDEMISSIONSQUELLE mit EXZELLENTER Auflösung + KOMPETITIV MIT FLOOR-MODELLEN + Hochvakuummodus + Mittelvakuummodus + Integrierter Ladungsreduktionsmodus (Niedervakuummodus) + Standard: 5 kV, 10 kV und 15 kV...

...Herstellung von Makro- und Mikroschliffe, Korngrößenbestimmung) Zug-, Biege- und Schälversuche an Schweißverbindungen von Kunststoffen Untersuchungen mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) und EDX-Analysen. Das Leistungsangebot im Rahmen der Akkreditierung des Prüflabors durch die Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH (DAkkS) kann der Anlage zur Akkreditierungsurkunde entnommen werden. Innerhalb...

Komponenten und Systeme für die Materialcharakterisierung, Analyse von dünnen Filmen, Imaging, Spektroskopie, Photonik, sowie für die Bio- und Nanotechnologie...

- PVD Beschichtungen (z.B. Gold, Platin, Chrom, Zirkonium, Al2O3, TiO2, TiN, MgF2) - Sol-Gel-Beschichtungen - Analyse & Charakterisierung von Oberflächen und Schichten (Mikroskopie, REM, ICP-OES, XPS...