... Rasterelektronenmikroskope (SEM) als auch Transmissionselektronenmikroskope (TEM) setzen auf diesen Prozess.
Das Auflösungsvermögen eines Mikroskops hängt inhärent von der Wellenlänge der elektromagnetischen Strahlung ab, die zur Erzeugung des Bildes verwendet wird. Wenn die Wellenlänge der Strahlung verringert wird, wird das Auflösungsvermögen erhöht. Da Elektronenwellenlängen ungefähr 100.000...
... Vormaterialien, der Prozess- sowie der Freigabeprüfung zum Einsatz. Neben Ultraschallprüfungen werden geometrische Größen geprüft sowie Härteprüfverfahren, rechnergestützte Zugversuche und chemische Analysen durchgeführt. Darüber hinaus werden Materialuntersuchungen mit einem Rasterelektronenmikroskop durchgeführt.
Unser Unternehmen hat sich auf die Forschung, Entwicklung und Herstellung von wissenschaftlichen Instrumenten für den Laborbedarf konzentriert. Wir vertreiben Rastermikroskope und Software...