...Das PlasmaPower Conditoner Tool dient als Plasma-Zündquelle für Rasterelektronenmikroskope. Es generiert die Zündspannung für ein FIB-Modul (Focused Ion Beam), z. B. zur Vorbehandlung der Probenoberfläche mit Plasma. Technische Spezifikationen: Eingang: 115 oder 230 V AC +/- 15 % wählbar mit Spannungsumschalter Ausgang: 500 V AC, 20 W, 40 mA LED-Zustandsanzeige Erhältliche Produkte: PlasmaPower Conditioner Tool im Tischgehäuse, Maße: 250 x 174 x 100 mm PlasmaPower Conditioner Tool als Einbausatz für 19“ Rackgehäuse Anschlusskabel Gewicht: 3,3kg...
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DE-55494 Rheinböllen
...In unserem modern ausgestatteten Labor für Oberflächenanalytik werden unsere Schichten, sowie entschichtete Substrate, bei bis zu 100.000-facher Vergrößerung untersucht und optimiert. Laborausstattung: digitales Rasterelektronenmikroskop mit EDX Lichtmikroskope mit digitalen Kameras Fischerscope XRF Kalottenschleifgerät Schichthaftungsmessung Rockwell-Tester Farbwertmessgerät...
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...Tisch-Feldemissionskanonen-Rasterelektronenmikroskop für hochwertige Bildgebung in allen Disziplinen. 2’000,000 x, 2nm Auflösung, EDX Elementanalyse und SED als Optionen + FELDEMISSIONSQUELLE mit EXZELLENTER Auflösung + KOMPETITIV MIT FLOOR-MODELLEN + Hochvakuummodus + Mittelvakuummodus + Integrierter Ladungsreduktionsmodus (Niedervakuummodus) + Standard: 5 kV, 10 kV und 15 kV...
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DE-60322 Frankfurt
DE-64319 Pfungstadt
Komponenten und Systeme für die Materialcharakterisierung, Analyse von dünnen Filmen, Imaging, Spektroskopie, Photonik, sowie für die Bio- und Nanotechnologie...
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