Deutschland, Oberursel
... auch für den OEM-Einsatz erhältlich sind. Ein weiterer Bereich ist die spektroskopische Ellipsometrie u.a. zur Schichtdickenbestimmung. Nicht nur die Schichtdicke, sondern auch die elementare Zusammensetzung lässt sich mit einem Glimmentladungsspektrometer (GD-OES) bestimmen. Weitere Systeme im Bereich Elementanalytik sind N-O-H, C-S und Schwefel in Öl Analysatoren sowie Röntgenfluoreszenz. Viele...
Hersteller von Röntgenfluoreszenz- Schichtdickenmessgeräte sowie Materialanalysesysteme zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung.