Deutschland, Oberursel
... auch für den OEM-Einsatz erhältlich sind. Ein weiterer Bereich ist die spektroskopische Ellipsometrie u.a. zur Schichtdickenbestimmung. Nicht nur die Schichtdicke, sondern auch die elementare Zusammensetzung lässt sich mit einem Glimmentladungsspektrometer (GD-OES) bestimmen. Weitere Systeme im Bereich Elementanalytik sind N-O-H, C-S und Schwefel in Öl Analysatoren sowie Röntgenfluoreszenz. Viele...
Deutschland, Rosbach v. d. Höhe
...Das handgehaltene RFA-Spektrometer besitzt überragende Analyseeigenschaften. Dies gilt speziell, wenn für leichte Elemente (Mg, Al, Si, P und S) besonders niedrige Nachweisgrenzen erforderlich sind. Selbst Legierungen mit sehr engen Toleranzen werden mit dem XL5 schnell und sicher unterschieden. Auch Spurenbestandteile in mikrolegierten Stählen sowie problematische Elemente zur...
Deutschland, Heidenrod
Herstellung, Reparatur und Service im Bereich energiedispersiver Röntgenspektrometer, SiLi-Detektoren, Oberflächenmikroanalytik im Elektronenmikroskop.
Andere Produkte
EDS Detektor - Si(Li)
EDS Detektor - Si(Li)
Hersteller von Röntgenfluoreszenz- Schichtdickenmessgeräte sowie Materialanalysesysteme zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung.