XT H 225 und XT H 320

Die vielseitigen Mikrofokus-CT-Systeme von Nikon für die hochauflösende Inspektion von Komponenten, von winzigen Kunststoffsteckern bis hin zu Aluminiumgussteilen für die R&D, Fehleranalyse und Qualit Vielseitige Lösungen für die anspruchsvollsten Prüfanwendungen Diese Systeme kombinieren die im Labor benötigte Vielseitigkeit mit einzigartigen Funktionen wie dem High-Flux Rotating.Target 2.0, dem Half.Turn CT-Erfassungsmodus und der Auto.Filament Control, um die Zykluszeit zu verkürzen und die Betriebszeit bei der Serienprüfung in der Fertigung zu verbessern. Flexibilität, wenn man sie braucht Durch die Wahl der Quelle, der Targets, der CT-Scan-Strategien und Optionen wie die motorisierte Einstellung des Abstands zwischen Quelle und Detektor sind die 225/320 kV Systeme vielseitig einsetzbar und eignen sich für eine Vielzahl von Prüfaufgaben. Eine Quelle, 5 Target-Optionen Wählen Sie das richtige Target für Ihre Anwendung: Vom Transmissionsziel mit Erkennung von Merkmalen im Submikrometerbereich über das weltweit einzige Rotating.Target 2.0 für herausragende Leistungen bis hin zum 320 kV Target für dichtere Proben. Einzigartiges 225 kV Rotating.Target 2.0 Ermöglicht einen Dauerbetrieb bis zu 450 W mit einer bis zu dreimal höheren Auflösung bei gleicher Leistung bzw. einer dreimal schnelleren Datenerfassung bei einer gegebenen Auflösung.