Multifunktions-Testsystem CATE-256FI

Das Testsystem CATE-256FI ist für den Funktionstest und In-Circuit-Test (MDA) von elektronischen Boards, Systemeinheiten und mechatronischen Prüflingen konzipiert. Der Aufbau basiert auf NI PXI-Module, die individuell nach Applikations-Anforderung konfiguriert werden. Durch den modularen Aufbau können schnell und preisgünstig Erweiterungen realisiert werden. Das System ist als Standalone oder als In-Linie Version verfügbar. Basis Konfiguration: • 19” Rack, 50HE, IP55 • 19“ PXI – Rack, 4HE, 12 Slot • PXI - RT Embedded Contoller • PPSU Programmierbare Spannungsquelle • PSU Festspannungsqelle • PXI – DMM mit 7½ Stellen • PXI – Funktions Generator • PXI – Analogkarte • PXI – Digital I/O parallel • PXI – Relay- Matrix • PXI – Relay 4x1 MUX • G12 Virginia Panel Prüflingsschnittstelle High Level Applikationen: Bei entsprechender Konfiguration kann das Testsystem auch im Bereich Luftfahrttechnik eingesetzt werden und wird so auch höchsten Ansprüchen gerecht.