Das Zeiss SURFCOM 2000SD3 bietet die Möglichkeit verschiedene Oberflächen- und Konturmessungen durchzuführen.
Bei der Oberflächenmessung werden Rauheits-, Profil- und Welligkeitskennwerte erfasst und dokumentiert. Mit der Konturmessung können komplexe Konturen und kleinste Stufen, Fasen, Radien erfassen und ausgewertet werden.